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磁粉探傷試片A型,A1型,D型,C型,M1型,A型試片 ,D型試片,C型試片

簡要描述:磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-04-15
  • 訪  問  量:4880
詳情介紹

 

磁粉探傷用試片使用說明

磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中:

名稱

A型試片

D

C

M1

試片厚度微米

100±10

50±5

50±5

50±5

50±5

試片長度毫米

20±1

20±1

10±0.5

10±0.5

20±1

試片寬度毫米

20±1

20±1

10±0.5

50±0.5

20±1

分割線間隔毫米

 

 

 

5±0.5

 

圓形人工槽直徑毫米

高靈敏度

10±0.5

10±0.5

5±0.3

 

12

中靈敏度

 

 

 

 

9

低靈敏度

 

 

 

 

6

十字人工槽長度毫米

高靈敏度

6±0.3

6±0.3

3±0.2

 

 

中靈敏度

 

 

 

 

 

低靈敏度

 

 

 

 

 

人工槽深度

微米

高靈敏度

15±2.0

7±1.0

7±1.0

8±1.0

7

中靈敏度

30±4.0

15±2.0

15±2.0

15±2.0

15

低靈敏度

60±8.0

30±4.0

30±4.0

30±4.0

30

人工槽寬度  微米

60180

 

標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法:

   標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法,使用時(shí)應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外,為使試片與被檢面接觸良好,可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。

磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位,由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè);當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí),可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去;檢測(cè)后請(qǐng)防銹。

標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。

A1A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理;A2試片未經(jīng)過退火處理。

C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。

磁粉探傷用試片使用說明

磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

名稱

A型試片

D

C

M1

試片厚度微米

100±10

50±5

50±5

50±5

50±5

試片長度毫米

20±1

20±1

10±0.5

10±0.5

20±1

試片寬度毫米

20±1

20±1

10±0.5

50±0.5

20±1

分割線間隔毫米

 

 

 

5±0.5

 

圓形人工槽直徑毫米

高靈敏度

10±0.5

10±0.5

5±0.3

 

12

中靈敏度

 

 

 

 

9

低靈敏度

 

 

 

 

6

十字人工槽長度毫米

高靈敏度

6±0.3

6±0.3

3±0.2

 

 

中靈敏度

 

 

 

 

 

低靈敏度

 

 

 

 

 

人工槽深度

微米

高靈敏度

15±2.0

7±1.0

7±1.0

8±1.0

7

中靈敏度

30±4.0

15±2.0

15±2.0

15±2.0

15

低靈敏度

60±8.0

30±4.0

30±4.0

30±4.0

30

人工槽寬度  微米

60180

標(biāo)準(zhǔn)試片A1A2、D、C、M1型規(guī)格中: 

標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法:

   標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法,使用時(shí)應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外,為使試片與被檢面接觸良好,可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。

磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位,由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè);當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí),可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去;檢測(cè)后請(qǐng)防銹。

標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。

A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理;A2試片未經(jīng)過退火處理。

C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。



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